Optik aller Wellenlängen: Tagung der Physikalischen Gesellschaft in der Deutschen Demokratischen Republik, 2.–5. Nov. 1958 in Jena [Reprint 2021 ed.] 9783112563502, 9783112563496

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Berichtigungszettel Zeile I v . u . : lies: Seite 386 s t a t t : 385 S. 112, Zeile 7 v . o . : Hinter ,,1 m m " ist zu ergänzen „Flankenwinkel 5°" S. 188, Zeile 5 v . o . : Der lange Strich mit dem darüberstehenden n{ über der Gleichung von 0 B i (Formel 2b) ist zu streichen S. 189, Tabelle 1: In der Zeile für i — 4 ist in der Spalte ri anstelle des Striches das Zeichen oo zu setzen S. 303, u n t e n : E s ist zu ergänzen: VBB Carl Zeiss J E N A S. 311, Abbildung 5: Links oben in der Abbildung m u ß die Einheit richtig heißen um u n d nicht y. S. 355, Abbildung 1: In der Unterschrift muß es heißen Hz und nicht H z S. 380, Zeile 8 v. u . : In der Gleichung für 7] muß es in der Doppelsumme des Nenners richtig heißen yi u n d nicht yx S. 5,

5327 Optik aller Wellenlängen

PHYSIKALISCHE IN

DER

DEUTSCHEN

GESELLSCHAFT

DEMOKRATISCHEN

REPUBLIK

OPTIK ALLER WELLENLÄNGEN

TAGUNG DER P H Y S I K A L I S C H E N

GESELLSCHAFT

IN D E R D E U T S C H E N D E M O K R A T I S C H E N V O M 2 . - 5 . NO V E M B E R

1958 IN

Mit 315 zum Teil farbigen

AKADEMIE-VERLAG 1959

REPUBLIK

JENA

Abbildungen

BERLIN

Herausgegeben im Auftrag der Physikalischen Gesellschaft in der Deutschen Demokratischen Republik

VERANTWORTLICHE

REDAKTEURE:

Prof. Dr. Dr. h. c. Paul Görlich wissensch. Hauptleiter im VEB Carl Zeiss JENA und Direktor am Institut für Optik und Spektroskopie der Deutschen Akademie der Wissenschaften zu Berlin und Dr. R.

Tiedeken

wissensch. Abteilungsleiter im VEB Carl Zeiss JENA

Alle Rechte vorbehalten, insbesondere das der Übersetzung in fremde Sprachen Copyright 1959 by Akademie-Verlag GmbH, Berlin Erschienen im Akademie-Verlag GmbH, Berlin W 1, Leipziger Straße 3-4 Lizenz-Nr. 202 • 100/693/59 Satz und Druck: B. G. Teubner Leipzig (111/18/154) Bestellnummer: 5357 Printed in Germany ES 18 B 5

INHALTSVERZEICHNIS 1. Grundlagen J . PICHT

Über eine Verallgemeinerung der Wellenmechanik

V . RONCHI

Ottica, fisica e ottica fisica

der

SCHRÖDINGER-Gleichung

7 22

2. H a l b l e i t e r K . W.

BÖER

Optische Eigenschaften und Photoleitung von Kadmiumsulfid

32

BÖER,

Photochemische Reaktionen und Lebensdauer von PhotozeJlen

51

Einige Untersuchungen über die Ermüdung und Temperaturabhängigkeit von Photoelementen

55

K.

W.

E.

HELBIG, H . KLAUS

W.

BORCHARDT

3. S p e k t r o s k o p i e H . ZAHN

Über die spektroskopische Methode zur quantitativen Bestimmung von 15N in Stickstoff

58

E.

Über die Spektren des Li I I und Li I I I

63

Verfahren zur interferometrischen Analyse von Dreistoffgemischen

64

M. P E T T I G

Beobachtung magnetischer Kernresonanzen in Emission . .

68

B.

ELSCHNER

Paramagnetische Elektronenresonanz in Mn-dotiertem Flußspat

74

M. FBACKOWIAK '

Die Untersuchung eines Organophosphors in vorerregtem Zustand

76

W.

FBEYTAG NEBE

4. S p e k t r a l a p p a r a t e H.

Über Gitterfehler bei Reflexionsgittern

82

Über die unvermeidlichen Fehler bei der Registrierung von Spektren

89

r. r. neTpam,

OnTHManbHue norjiomeHHH

95

K.

Experimentelle Untersuchungen über das Leistungsvermögen von Prismen-Monochromatoren 101

BÖTTCHER,

M . SCHUBERT W . ROHMAKN,

M.

SCHUBERT

LENZ

P . FRÖHLICH,

ycjioBHH

perncTpauiin

cneKTpoB

Streulichtbestimmungen in Prismenmonochromatoren . . . .

104

M . SCHMUTTTZSCH H . REIMANN

EM

Vakuumgitterspektrometer für das ferne Infrarot .

.

.

.

110

4

Inhaltsverzeichnis

M.

RIEMANN

Über einige Probleme beim Bau eines Vakuumspektrographen 115

P. KRÖPLIN

Der neue Plangitterspektrograph des Y E B Carl Zeiss J E N A

H . SCHOBER

Über den gegenwärtigen Stand der physiologischen Optik .

123

5. P h y s i o l o g i s c h e O p t i k .132

K . MÜTZE

Ist die Forschung in der biologischen Optik noch heute aktuell?

150

R . RIEKHER

Über Brillengläser mit gleitender Dioptrienzahl

163

6. B e u g u n g s t h e o r i e A . MARÉCHAL

La diffusion résiduelle des surfaces polies

174

B.

Zur Beugungstheorie der Bildfehler

176

SCHNABEL

H . E.

FINCKE

Bisphärische Flächen als Korrektionsmittel in der photographischen Optik 179 7. G e o m e t r i s c h e O p t i k

J. H.

KLEBE

SCHOELER

Untersuchungen über Brechzahltoleranzen bei einem beliebigen k-flächigen optischen System 185 Die Verzeichnung in der Photogrammetrie

192

G. WÜRTZ

Über den Einfluß von Herstellungsfehlern auf die Verzeichnung und die Kompensationsmöglichkeiten 200

E. WOLF

Über die praktische Ermittlung der photogrammetrischen Verzeichnung an Überweitwinkelobjektiven im endlichen Abbildungsbereich 209

H . BECKER

Über die Deformation des LITTROW-Spiegels zur Verringerung des Astigmatismus

216

8. M i k r o s k o p i e H . RIESENBERG

Über eine Gruppe von Mikroskop-Spiegelobjektiven mit Zentralabschattungen verschiedener Größe

218

E . LAU, J . RIENITZ

Weiterentwicklung des lichtoptischen Mikroskops

229

G.

BECHERER

Über die Methoden der Mikroskopie mit Röntgenstrahlen . . . 247

G. BECHERER,

Über ein Röntgenschattenmikroskop

G. EXNER

Über einige methodische Fortschritte bei der Photometrie strukturierter mikroskopischer Präparate 255

H. H . HorKiNS

Aberration Tolerances

259

K.

Die P r ü f u n g optischer Systeme mit Hilfe der Kontrastübertragungsfunktion

260

Kontrastübertragungsfunktionen vom praktischen Gesichtspunkt

286

O . BRÜMMER, M . SCHARF

251

9. O b j e k t i v - P r ü f u n g

E.

ROSENHATTER

INGELSTAM

experimentellen

und

Inhaltsverzeichnis J . SCHILLING

,

H . ZÖLLNER

Messung der Kontrastübertragungsfunktion und Vergleich mit der geometrisch-optischen Korrektion

5

299

K . KÜHNE

Überblick über die Bedeutung verschiedener Objektivprüfmethoden f ü r den Betrieb 304

G . SCHMIDT,

Untersuchungen über die Intensitätsverteilung im Bild von Objektpunkten und Gittern verschiedener Gitterkonstanten .

W . REICHEL J . REICHARDT,

305

Quantitative Bestimmung der Abbildungsfehler photographi-

H.

WETZSTEIN

scher Objektive mit Hilfe von TwYMAN-Interferometern . . . 313

R.

SCHALGE

Verwendung von Rastern zur Objektivprüfung

325

CHR. HILLER

Vergleichende Untersuchungen über verschiedene Verfahren der Äquidensitometrie 332

M . MALY

Isogradientverfahren zur Auswertung des photographischen Büdes 349 10. S p e z i a l f r a g e n d e r t e c h n i s c h e n O p t i k u n d R a n d g e b i e t e

E.

LAU,

E.

GEHRMANN

Photomechanische Effekte

354 358

K . KÜHNE

Quantitative Messungen von Schlieren in Gläsern

K . KÜHNE

Interferenzielle Prüfung der Ebenheit von langen Führungsbahnen 362

H . POHLACK

Über einige neuere Probleme der Grenzflächenoptik absorbierender Medien 369

K. H.

Ein Gerät zur Mikrospektrometrie mit Spektralphotometern. 374

BRAUER,

F . FRÖHLICH R . TIEDEKEN

Einige Bemerkungen über die Konstruktion von Beleuchtungssystemen und die Beurteilung ihres Wirkungsgrades auf Grund der Konstruktion 377

O. MEISSER

Schwingungen aller Wellenlängen des Erdkörpers

385

J. P I C H T , Potsdam-Griebnitzsee

Über eine Verallgemeinerung der S c h h ö d i n g e r - Gleichung der Wellenmechanik 1. Vorbemerkungen über die mit dem bewegten Elektron verbundenen Wellen In einer Arbeit, über die ich auszugsweise in Wien und einige Wochen vorher bereits in Potsdam vorgetragen habe,1) hatte sich gezeigt, daß die mit einem bewegten Elektron verbundene de BKOGLIE-Welle sehr eigentümlichen Charakter besitzt. Es handelt sich bei ihr — wie ich bereits in der 2. Auf läge meiner „ E T H E O " gezeigt habe — um eine inhomogene ebene Welle, die sich in Richtung der Geschwindigkeit, also in Richtung von b des Elektrons [gegen den als ruhend bec2 trachteten Beobachter] mit der Phasengeschwindigkeit — = u ausbreitet [bei E ^ = 0], dessen „Flächen gleicher Phase", d. h. dessen Wellenflächen Ebenen senkrecht zu b sind, dessen „Flächen gleicher Amplitude" aber keineswegs mit den Flächen gleicher Phase, den Wellenflächen, zusammenfallen, sondern Rotationsellipsoide um den jeweiligen Ort des Elektrons sind, deren Rotationsachse mit der Bewegungsrichtung des Elektrons (gegen den Beobachter) — die als x-Achse gewählt sei — zusammenfällt und die kleine Achse der Ellipsoide bildet, während die beiden zu b senkrechten Ellipsoidachsen einander gleich sind. In jeder der ebenen, zur Bewegungsrichtung des Elektrons senkrechten Phasenflächen nimmt die Amplitude also von ihrem Durchstoßungspunkt mit der als geradlinig vorausgesetzten Bahn des Elektrons nach allen Seiten gleichartig2) [von ihrem Maximalwert im Schnitt der betreffenden Ebene mit der Bahn des Elektrons] ab, in den verschiedenen bahnsenkrechten Ebenen aber verschieden stark (Abb. 1-3). Betrachten wir eine bahnsenkrechte Ebene, also eine der ebenen, bahnsenkrechten Wellenflächen, die das Elektron noch nicht erreicht hat, so sind in ihr die — vom Bahndurchstoßpunkt mit dieser Ebene in ihr allseitig gleichartig abnehmenden — Amplituden kleiner als zu einem späteren Zeitpunkt, wenn sich das Elektron dieser herausgegriffenen Ebene stärker genähert hat. Mit zunehmender Annäherung des Elektrons an diese herausgegriffene Ebene wachsen die Amplituden an bis zu Maximal-weiten, die gleichfalls in den verschiedenen Punkten der Ebene in Abhängigkeit von ihrem Abstand vom Bahndurchstoßungspunkt verschieden groß sind und die erreicht sind, wenn das Elektron diese herausgegriffene Ebene erreicht hat, d. h. durchsetzt, um dann — mit wachsendem Abstand des Elektrons von der betreffenden Ebene wieder in entsprechender Weise abzunehmen. ') Inzwischen erschienen in: Optik 16, (1959) 257—275 aber nicht „gleichmäßig"

2)

8

J . PICHT

Dieses sehr merkwürdige Anwachsen und wieder Abnehmen der Amplituden läßt sich mathematisch als eine „Absorption des Mediums" auffassen, wobei der Absorptionskoeffizient zunächst kleiner, später größer als 1 ist und nicht nur von x, sondern auch von Q — |/i/2 + z2 sowie von t abhängt. Höchen gleicher Amplitude

Wachen gleicherAmplifude Flächen gleicher Phase

m

(Amplitude A0 in • willkürlichem MoB)

cm K-J.38S-W cm

v\/Q75c-0,866c

Abb. 1 Schematische Darstellung eines Elektrons (schraffiert) und des mit ihm: 1. inseinemRuhesystem verbundenen(synchronen) Schwingungivorganges, bei dem die Schwingungsamplituden A außerhalb des Elektrons umgekehrt proportional dem Abstand vom Mittelpunkt des Elektrons sind, entsprechend der LAPLACEschen Gleichung, während sie innerhalb des „Elektrons" der POISSONschen Gleichung entsprechend bestimmt sind. [Dabei ist in der Zeichnung angenommen, daß die in der POISSONschen Gleichung A